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基于BOS技术的密度场测量研究

张俊 胥頔 张龙

张俊, 胥頔, 张龙. 基于BOS技术的密度场测量研究[J]. 实验流体力学, 2015, (1): 77-82. doi: 10.11729/syltlx20140029
引用本文: 张俊, 胥頔, 张龙. 基于BOS技术的密度场测量研究[J]. 实验流体力学, 2015, (1): 77-82. doi: 10.11729/syltlx20140029
Zhang Jun, Xu Di, Zhang Long. Research on density measurement based on background oriented schlieren method[J]. Journal of Experiments in Fluid Mechanics, 2015, (1): 77-82. doi: 10.11729/syltlx20140029
Citation: Zhang Jun, Xu Di, Zhang Long. Research on density measurement based on background oriented schlieren method[J]. Journal of Experiments in Fluid Mechanics, 2015, (1): 77-82. doi: 10.11729/syltlx20140029

基于BOS技术的密度场测量研究

doi: 10.11729/syltlx20140029
详细信息
  • 中图分类号: 11-5266/V

Research on density measurement based on background oriented schlieren method

  • 摘要: 背景纹影技术是一种基于图像的大视场、非接触的定量流场测试技术,在流场测量中有着广阔的应用前景。详细介绍了背景纹影技术的基本原理,并从理论上对系统灵敏度以及空间分辨率进行了深入分析。根据背景纹影技术原理,深入设计了背景斑点图案,搭建了密度场测量系统,基于火焰流场和喷流流场开展了定量测量研究,并给出了流场密度和温度分布测量结果。结果表明,背景纹影技术可以便捷、有效地实现流场密度测量和温度测量,为实现大视场定量的流场密度测量提供了一种简洁有效的方法。
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  • 刊出日期:  2015-02-25

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    2021年8月13日